EQY量子效率測量系統

量子點和新型發光材料特性測試方案是一套綜合了PL，EL測試功能為一體的OLED，量子點，鈣鈦礦等材料特性測試方案。

測量參數

亮度

色坐標

吸光度

主波長

吸收光譜

發射光譜

V-I 特性

EQE

PLQY

EQY量子效率測試方案優勢

• 
  

• 體積小巧 — 便于靈活使用及運輸

• 原位測量 — 可放置在手套箱內，實現原位測量

• 操作簡單 — 設備無需頻繁校準

• 結果準確 — 使用NIST溯源的輻射校準

• 測試高效 — 自動測量和遠程控制，一次多樣品測試

• 結果清晰 — 專用軟件內嵌計算算法，直接得到測試結果

• 測試范圍 — 兼容較寬亮度范圍器件，從0.01 nit 到2*10?nit

SPECTRUMTEQ-EQY-PL 光致發光測試系統

光致發光測試以模塊化思路設計，適合手套箱內使用，也可以和電致發光方案共用部分器件，配合組成一套完整的測試方案，應對無論是OLED，QLED，PeLED發光器件，在器件制備的全流程中進行器件測試，測試系統經過可溯源的光源進行定標，能夠進行準確的絕對量子產率，色度，和光譜測量。

PL系統針對手套箱做了易用化的設計,采用升降臺承載樣品防止手持造成灑落，在保證操作方便的同時，保證了每次安裝的位置都相同，降低了人為操作的誤差，提高了整體測試過程中的結果可靠度。含激發光濾光片插槽，根據激發光波長搭配濾光片，防止激發光和樣品發光重合對結果的影響。

EQY量子效率測量系統產品參數

SPECTRUMTEQ-EQY-EL 電致發光測試系統

同光致發光方案一致，電致發光測試系統以模塊化思路設計，特別適合手套箱內使用，使用業內旗艦級光譜儀，能夠進行準確的量子效率，亮度，色度等測量，真正的實現了制備和測試同時進行。EL測試方案共有兩種配置，分別適配不同的樣品形貌，器件亮度和測試需求。搭配源表和軟件，可以對器件進行更精確的四點法測量。

方案一：集成化程度高，適配無線遙控自動化測試，3.3寸積分球更適合高亮度樣品，可以根據器件定制專用夾具，且能進行PL擴展。

方案二：高靈活度探針臺方案，單點測試，小體積異形樣品均適用，1.5寸積分球，可以測試低亮度樣品，安裝方便，小巧靈活。

電致發光系統可以通過增加光致發光系統配件，實現電致發光和光致發光的兩種功能，同樣的，光致發光系統也可以通過定制夾具，實現兩種功能。

EQY量子效率測量系統特色