名稱：顯微PL光譜

型號(hào)：ProSp-Micro40-VIS

顯微PL（Photoluminescence，光致發(fā)光）光譜分析是一種重要的光學(xué)檢測技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體物理、生物醫(yī)學(xué)及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。該技術(shù)通過測量物質(zhì)在光的激發(fā)下所發(fā)出的熒光或磷光特性，揭示材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)信息。PL光譜測量技術(shù)不僅能夠提供有關(guān)材料的結(jié)構(gòu)、成分及環(huán)境原子排列的信息，而且作為一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，在物理學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)及分子生物學(xué)等相關(guān)領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用。

ProSp-Micro40-VIS系列顯微PL光譜儀，深度融合顯微鏡、光譜儀和激發(fā)光源，在微米尺度內(nèi)測量樣品的熒光PL光譜信號(hào)。儀器可以測量固體、粉末和液體樣品，儀器配置有二維掃描臺(tái)，實(shí)現(xiàn)Mapping測量。

主要特點(diǎn)：

Ø                      光譜范圍寬，根據(jù)不同配置，光譜范圍可以覆蓋230-2400nm；

Ø                      高性價(jià)比，在合理的價(jià)格下，采用高性能的QEPRO光譜儀，大幅度提升儀器性能和可靠性；

Ø                      模塊化設(shè)計(jì)，可以選配不同激發(fā)波長模塊，合理利用資源和資金；

Ø                      高空間分辨率，在100X物鏡下，采集區(qū)域小于2um；

Ø                      可以測量固體、粉末和液體樣品；        

應(yīng)用領(lǐng)域：

Ø                      半導(dǎo)體材料研究:在半導(dǎo)體材料中，PL光譜分析可以用于評(píng)估材料的晶體質(zhì)量和摻雜水平；

Ø                      生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用:在生物醫(yī)學(xué)中，PL光譜可以作為生物標(biāo)記物的檢測方法之一；

Ø                      環(huán)境監(jiān)測:在環(huán)境監(jiān)測中，PL光譜可以用于檢測水體中的污染物等；

Ø                      LED發(fā)光材料研究:PL光譜測量系統(tǒng)典型應(yīng)用于LED發(fā)光材料的研究。